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镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。测量原理与仪器一． 磁吸力测量原理及测厚仪 ...
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涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型: （分体化传感器涂层测厚仪） 功能： 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 测量方法：F 磁感应 NF 涡流 测量范围：0-1250um/0-50mil (标准量程) 最小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 分辨...
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